IM7580A日本**阻抗分析儀
快0.5ms，高速、高穩定測量，節省空間的半個機架大小
● 測量頻率1MHz~300MHz
● 測量時間：快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
IM7580A日本**阻抗分析儀
基本參數
| 測量模式 | LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續測量 |
|---|---|
| 測量參數 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保證范圍 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 顯示范圍 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 測量頻率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進) |
| 測量信號電平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 輸出阻抗 | 50 Ω (10 MHz時) |
| 顯示 | 彩色TFT8.4英寸、觸屏 |
| 測量時間 | 快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值） |
| 功能 | 接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償 |
| 接口 | EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件) |
| 電源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 體積和重量 | 主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) × |
自動化元器件檢測SH-WRJ0002
背景
被動元器件，在5G和新能源車、消費類電子產品升級的帶動下，需求量越來越大。MLCC、厚膜電阻等，不管是產品的功率、還是對小尺寸產品的追求。客戶對產線設備的要求是，高速、高精度，高一致性的測試設備。
具體應用
根據被動元器件廠家產線的產量及良率要求，高速評價元器件特性（L/C/R/Z/Q等），測試數據分等級批次一次完成。配套測包機系統，兼顧系統兼容性和小尺寸治具。
使用儀器
LCR IM3536
高頻阻抗分析儀 IM7580系列
微電阻計 RM3545
高阻計 SM7110
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