科思特CS150M點蝕電位測試儀功能方法
穩態極化：開路電位測量（OCP）、恒電位極化（I-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描（TAFEL曲線）、動電流掃描（DGP）
暫態極化：任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、多電位階躍（VSTEP）、多電流階躍（ISTEP）
伏安分析：線性掃描伏安法（LSV）#、線性循環伏安法（CV）、
腐蝕測量：動電位再活化法（EPR）、電化學噪聲（EN）、電偶腐蝕測量（ZRA）、晶間腐蝕
電池測試：電池充放電測試、恒電流充放電
擴展測量：圓盤電極測試
科思特CS150M點蝕電位測試儀硬件參數指標
| 恒電位控制范圍：±10V | 恒電流控制范圍：±2.0A |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數 |
| 槽壓輸出：±21V （可擴展至±200V) | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 較大輸出電流：2.0A |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| 電位上升時間：﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程：2nA～2A, 共10檔 |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的較小電位增量：0.075mV |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| AD數據采集：16bit@1MHz，20bit @1KHz | 電流與電位量程：自動設置 |
| 通訊接口：USB2.0 | 儀器重量：6.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
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科思特CS150M點蝕電位測試儀配置：
儀器主機1臺
電源線/USB數據線各1條
CorrTest測試與分析軟件1套
電極電纜線（含噪聲測量線）1條
模擬電解池1個（儀器自檢器件）
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