筱曉光子 光學波導拋光/光波導拋光和檢測系統
Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光學波導，光纖陣列V型槽拋光和檢測系統可以拋光和檢測多種類型的光波導、多光纖陣列V型槽，以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統配備了一個剖面圖，高分辨率攝像機，允許用戶監控拋光過程，進行余量去除和角度驗證。具有精確定位能力的明視場檢測系統，能夠對設備拋光端面進行質量檢測。
產品特點
缺陷和無斷裂零件澆注，精確到+/-0.01度
鈦/聚醚醚酮混合嵌件夾具，用于提高亞微型零件的耐用性
用于較大波導和陣列的可調寬度夾具
精密進料，用于精確的余量去除和長度控制(1 um長度控制)
拋光角度驗證和長度測量的計量選項
利用高分辨率攝像機和精密玻璃光學器件，可定位明視場視頻檢測能力。通過500倍的放大率查看所有關鍵區域/邊緣
左:適用于較大波導和陣列的可調寬度夾具 右:適用于超小型陣列的精密夾具
玻璃、硅和類似材料的無切屑精確獲取
拋光/寄生角和長度測量
在線端面檢查、拋光/寄生角和長度測量
Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光學波導，光纖陣列V型槽拋光和檢測系統可以拋光和檢測多種類型的光波導、多光纖陣列V型槽，以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統配備了一個剖面圖，高分辨率攝像機，允許用戶監控拋光過程，進行余量去除和角度驗證。具有精確定位能力的明視場檢測系統，能夠對設備拋光端面進行質量檢測。
產品特點
缺陷和無斷裂零件澆注，精確到+/-0.01度
鈦/聚醚醚酮混合嵌件夾具，用于提高亞微型零件的耐用性
用于較大波導和陣列的可調寬度夾具
精密進料，用于精確的余量去除和長度控制(1 um長度控制)
拋光角度驗證和長度測量的計量選項
利用高分辨率攝像機和精密玻璃光學器件，可定位明視場視頻檢測能力。通過500倍的放大率查看所有關鍵區域/邊緣
左:適用于較大波導和陣列的可調寬度夾具 右:適用于超小型陣列的精密夾具
玻璃、硅和類似材料的無切屑精確獲取
拋光/寄生角和長度測量
在線端面檢查、拋光/寄生角和長度測量
更新時間：2023/5/24 17:35:26
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