---------------------產品詳情-------------------------
Gigahertz-Optik照度計BTS256-EF,光度計CP-PS-1-EU
| 一般 | |||
| 簡短的介紹 | 光譜儀用于照度(明,暗,黑色),PAR,光譜,光色,顯色指數和閃爍 | ||
| 主要特點 | 移動測量設備,具有Vλ光電二極管和低雜散光CMOS光譜儀的BiTec傳感器,具有10 nm的光學帶寬和附加的光學帶寬校正(CIE214),遙控偏移快門,精確的余弦校正視場,數據記錄儀,自動PWM同步,Pst,SVM,閃爍指數等的閃爍測量 | ||
| 測量范圍 | 1 lx至199,000 lx,360 nm至830 nm,閃爍頻率在0.25 Hz和40 kHz之間 | ||
| 典型應用 | 用于照明行業的精密光譜照度計 | ||
| 校準 | 工廠校準,可追溯到國際標準 | ||
| 產品 | |||
| 傳感器 | 符合JIS C 1609-1:2006的B級DIN 5032第7部分或AA, | ||
| 傳感器 | 帶有光度寬帶檢測器和陣列光譜儀的雙技術傳感器。集成光圈可自動調節暗信號。 | ||
| 輸入光學 | 擴散器窗口,直徑20mm,余弦校正視場,f2誤差≤3% | ||
| 過濾 | 具有出色的CIE光度匹配的光譜響應度。通過光譜測量數據在線校正光度匹配(光譜失配因子校正) | ||
| 閃爍 | 測量指標:閃爍百分比(IES:RP-16-10,CIE:TN-006),閃爍指數(IES:RP-16-10,CIE:TN-006),閃爍頻率,快速傅立葉變換(FFT),P st 短期閃爍嚴重程度Pst(CIE:TN-006,IEC TR 61547),頻閃效應可見度測量SVM(CIE:TN-006,IEC TR 63158),Mp ASSIST,聯合附錄JA10。 BTS256-EF的內部存儲器有限,因此,當用作手持式電表(無PC)時,只能訪問以下頻率范圍: 測量時間(傳感器)測量時間(閃爍)采樣率上限頻率較低的截止頻率信噪比可接受時的頻率不確定度FFT頻率分辨率50毫秒41.0毫秒20微秒5 kHz的60赫茲1%+-0.5赫茲25赫茲100毫秒81.9毫秒40微秒5 kHz的30赫茲1%+-0.5赫茲12.5赫茲200毫秒163.8毫秒80微秒2.5 kHz的15赫茲1%+-0.5赫茲6.3赫茲500毫秒327.7毫秒160微秒1.2 kHz的8赫茲1%+-0.5赫茲3.2赫茲1000毫秒655.4毫秒320微秒0.6 kHz4赫茲1%+-0.5赫茲1.6赫茲3000毫秒2620毫秒1280微秒150赫茲1赫茲1%+-0.1赫茲0.4赫茲6000毫秒5240毫秒2560微秒75赫茲0.5赫茲1%+-0.05赫茲0.2赫茲12000毫秒10486毫秒5120微秒33赫茲0.25赫茲1%+-0.02赫茲0.1赫茲當BTS256-EF與PC和S-BTS256或S-SDK-BTS256軟件結合使用時,測量范圍擴展到以下范圍: 測量時間(傳感器)測量時間(閃爍)采樣率上限頻率較低的截止頻率信噪比可接受時的頻率不確定度FFT頻率分辨率5毫秒至180000毫秒(3分鐘)5毫秒至180000毫秒至少25 µs。(40kHz的)5 kHz的2.5 /次 時間1%±0.5赫茲1 /次 時間 | ||
| 光譜探測器 | |||
| 芯片 | CMOS二極管陣列 | ||
| 光譜范圍 | (360-830)納米 | ||
| 光帶寬 | 10 nm,可以自動應用根據CIE 214的數學光學帶寬校正 | ||
| 資料解析度 | 1納米 | ||
| 整合時間 | (5.2-30000)毫秒 | ||
| 快門 | 自動光圈用于暗信號測量,其積分時間與光測量的積分時間相同。光圈延遲= 100ms。 | ||
| 典型的測量時間 | 199,999 lx≤5ms(白光) 100 lx≤1s(白光) | ||
| 顏色測量范圍光譜 | (1-199,999)lx | ||
| topic |
| ||
| 峰值波長 | +/- 1納米 | ||
| 主波長 | +/- 1納米 | ||
| 重復性Δx和Δy | +/- 0.0001(標準光源A型) +/- 0.0002(LED) | ||
| ΔyΔx不確定度 | +/- 0.002(標準光源A型) +/- 0.005(典型LED) | ||
| CCT測量范圍 | (1700-17000)K | ||
| ΔCCT | +/- 50K(標準光源A型) +/- 4%(取決于LED光譜) | ||
| CRI(顯色指數) | Ra和R1至R15 | ||
| 雜散光 | 6E-4(藍色LED) 6E-4(綠色LED) 6E-4(紅色LED) 1E-3(白色LED) (典型值,在LED峰值的左側100 nm處測量) | ||
| 校準不確定度 | 光譜輻照度 (360-399)納米±5.5%(400-479)納米 ±4%(480-779)納米±3,8%(780-830)納米±4,3%光譜輻照度響應度(360-830)nm | ||
| 整體探測器 | |||
| 校準不確定度 | 照度±2.2% | ||
| f1'(光譜不匹配) | ≤6%(未校正) ≤3%(通過光譜數據校正的f1'a (s z(λ))分別為F (s z(λ)),由BTS技術自動完成) | ||
| 照度 | ≥199,999lx | ||
| 噪聲等效照度 | ≤0.01lx | ||
| ADC | 12位 | ||
| 測量時間 | (0.1-6000)毫秒 | ||
| 溫度范圍 | 二極管的測量值通過內部溫度傳感器進行校正。 | ||
| 圖表 | |||
| f2(方向響應/余弦誤差) | |||
| 光譜響應度 | |||
| 雜 | |||
| 微處理器 | 16Bit,25ns指令周期時間 | ||
| 電源供應 | 5VDC,每個USB 450mA | ||
| 接口 | USB 2.0(B型USB) 選件WiFi:WiFi 2,4 GHz(外部天線,范圍> 100m) | ||
| 溫度范圍 | 工作溫度:+ 10°C至+ 30°C 儲存:-10°C bis + 50°C | ||
| 住房 | 防濺IP54 | ||
| 運輸箱 | 333毫米x 280毫米x 70毫米,650克 | ||
| 外型尺寸 | 159mm x 85mm x 45mm(長x寬x高) | ||
| 重量 | 500克 | ||
---------------------其他型號-------------------------
Gigahertz-Optik照度計BTS256-EF,光度計CP-PS-1-EU
傳統的照度計越來越多地被諸如MSC15之類的光譜光度計所取代。但是,照明行業還需要能夠處理更復雜測量的高精度光譜照度計。其中包括脈寬調制光的測量以及測量內部和外部照明的能力,確定燈的熱瞬態行為等。此類儀表必須始終滿足的主要標準是其光度特性的質量。附加的電子功能可能會提高可用性和顯示質量,但是它們無法補償不合標準的測量結果。
用于一般照明目的的燈具制造商在根據EMC抗擾性要求對產品安全進行鑒定時,必須考慮閃爍。除了電源電壓波動的影響外,還必須考慮由燈和照明設備本身引起的閃爍效應。
的測量設備制造商Gigahertz-Optik GmbH通過BTS256-EF提供了一種通用的測量設備,用于確定一般照明中的所有相關光參數。結合可編程交流電源,BTS256-EF成為用于燈具的綜合閃爍測試系統,包括抗電壓波動性測試IEC TR 61547-1:2017。
BTS256-EF –高質量的光譜光和顏色測量儀
BTS256-EF是用于常規照明產品和條件的光度和色度測量的高質量測量設備。儀表的一項特殊功能是Bi-Tec傳感器。它由一個快速光電二極管和一個CMOS陣列檢測器組成。因此,該儀表可以滿足現代測光表的所有要求:
余弦視場照度測量,用于精確評估擴展照度(B級DIN 5032第7部分或AA,根據JIS C 1609-1:2006)
閃爍測量
光譜測量技術,LED照明,色彩,顯色性,色彩效果所需
光電二極管,用于與脈寬調制光和閃爍測量同步
阿爾法光學照度和輻照度測量(CIE S 026:2018)
緊湊而堅固的設計,可移動使用
BTS256-EF –閃爍儀
BTS256-EF作為一種閃爍表,可支持所有當前的閃爍測量:
閃爍百分比(IEEE標準1789-2015,IES:RP-16-10,CIE:TN-006)
閃爍指數(IEEE Std 1789-2015,IES:RP-16-10,CIE:TN-006)
FFT頻率分量分析
P st短期閃爍嚴重程度(CIE:TN-006,IEC TR 61547)
頻閃可見度測量儀,SVM(CIE:TN-006,IEC TR 63158)
M p ASSIST閃爍感知指標
聯合附錄JA10
此外,與電源LPS-CH-500組合使用時,BTS256-EF允許根據IEC TR 61547進行閃爍測試。這些測試旨在探查在干擾信號影響下在交流電路中操作光源時的閃爍穩定性。
BTS256-EF –用于植物生長的光合有效輻射(PAR)的儀表
LED生長燈需要根據產生的光合有效輻射(PAR)進行測量。BTS256-EF支持此功能。可以測量以μmol/(m2 s)為單位的光合光子通量密度(PPFD),它是PAR波長范圍內每秒每平方米面積到達表面的光子總數的量度。此外,可以顯示日光積分(DLI),該日光積分表示植物在一天內的光合有效輻射總量。
BTS256-EF的校準
光度設備的一項基本質量特征是其精確且可追溯的校準。BTS256-EF由Gigahertz-Optik的校準實驗室校準,該實驗室已通過DAkkS(DK-15047-01-00)認證,根據ISO / IEC 17025獲得了光譜響應度和光譜輻照度。校準還包括相應的附件組件。每臺設備均隨附其各自的校準證書。
BTS256-EF照度計的選件
用于將設備集成到用戶自己的軟件中的軟件開發套件
結合軟件工具ST-Flicker和可編程交流電源LPS-CH-500 Gigahertz-Optik GmbH,它為測試系統提供了BTS256-EF的功能擴展,該測試系統符合IEC TR 61547-1:2017通用照明設備-EMC抗擾度要求-第1部分:客觀的閃爍和波動抗擾度測試方法。
---------------------優勢品牌-------------------------
Anderson-Negele耐格,HBM傳感器,Bürkert寶德,HAUG豪格,EGE,PULS普爾世,TWK,ELEKTROR風機,
EMRAX 電機,bronkhorst流量控制器, wandres 劍刷,HAUBER Elektronik霍伯納,BUEHLER BüHLER 傳感器,
staiger電磁閥 ,loval加熱器,microsonic超聲波傳感器 ,Steuber ,Spieth 聯軸器 ,VESTA 電磁閥線圈,
TECNA 平衡器,NSI比利時鍵盤,HB Products位移傳感器 ,SPECK 離心泵 密封件,DELO點膠頭 ,
AirCom壓力計MHA-A5P ,VESTER傳感器 ,GRAS麥克風 ,Kalinsky 傳感器,
ALPHA-CURE紫外線,SCHIEDRUM HYDRAULIK流量閥,Mazurczak 加熱電阻器,
AVS ROEMER 電磁閥 接頭,Quintest 噴碼機,Dietz Sensortechnik 器,CYTEC加緊螺栓聯軸器等,歡迎詢價!
Gigahertz-Optik詢價請直接找 江春燕
----------------------------------------------
如有咨詢,歡迎隨時聯系我!
江春燕
(同微信號)
深圳市仕達威實業有限公司
Shenzhen StarView Industrial Co Ltd.
手機: (同微信號)
郵箱: sales
: 2038 號愛華大廈 609 室 郵編: 518028
Aihua Building 609 room, Shennan Middle of the No.2038, Shenzhen
仕達威18年行業經驗,歡迎詢價采購!
| 仟漁 |
同類優質產品
會員登錄X請輸入賬號 請輸入密碼 請輸驗證碼 提示X您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~
歐亞貿易網 設計制作,未經允許翻錄必究 .Copyright(C) http://m.78511280.cc,All rights reserved. 以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,歐亞貿易網對此不承擔任何保證責任。溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。 |





所有評論僅代表網友意見,與本站立場無關。