德國Instrument Systems（IS） TOP 200 光學探頭 輻射亮度測量探頭
TOP 200 –用于輻射和亮度測量的光學探頭
TOP 200 光學探頭基于普里查德式光學設計，帶有集成式取景相機。
產品特長：
普里查德式光學設計配有傾斜度僅 15o 的孔鏡，可以提供非常圓的清晰圖像點
光纖的靈活連接和獲取可重現讀數的ZL模式混合器，以及極低的偏振靈敏度
可通過軟件選擇的 6 種測量點大小
具有寬視場的內部取景相機
最小的測量點：80 µm
測試對象的可選照明
50 是具有單孔徑的低成本替代產品。
測量應用
測得的輻射強度由 TOP 200 通過多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的ZL模式混合器可確保光纖中的光透射均勻，即使光纖位置改變，也可產生可重現讀數。
普里查德原則支持在測量過程中觀察視場，并監控視場進行準確定位。取景相機的圖像由 SpecWin Pro 軟件自動導入并與讀數一起保存。
產品類型
型號 | 描述 |
|---|---|
| 基本規格和光纖 | |
TOP200-100 | 光學探頭的基本規格，帶多模光纖和光纖束連接器 （無鏡頭和光纖） |
TOP200-203 | 帶模式混合器和 PLG 適配器的多模光纖（長度為 2.3 mm）； 300–2200 nm |
TOP200-204 | 帶模式混合器和 PLG 適配器的 UV 多模光纖（長度為 2.3 mm）； 190–1350 nm |
50-100 | 基于Pritchard光學原理的基本伸縮光學探頭，具有單光圈和集成取景器攝像頭（不含鏡頭和光纖） |
| 鏡頭和微距鏡頭 | |
00-308 | 定焦鏡頭 28 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
00-311 | 定焦鏡頭 60 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
00-322 | 定焦鏡頭 105 mm; F/4,8; 200–800 nm |
德國Instrument Systems TOP 200 光學探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件
用于輻射和亮度測量的一體化系統 DTS140D NVIS 通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光譜儀 | CAS 140D 光譜范圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。 |
光學探頭和鏡頭 | 用于 4 種測量點大小的帶機動孔徑輪的 TOP 200 光學探頭，具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校準攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。 |
校準 | 光譜輻射和亮度校準，可追溯至國家標準 PTB 或 NIST。包括 MIL 證書。 |
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