產品簡介
菲希爾Fischer XDV-SDD臺式X射線熒光涂層測厚儀 XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能.強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務建立.優化的激發條件。
詳情介紹
特點：
- 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量.薄的鍍層
- 極耐用的設計結構，能以極出色的長期穩定性用于連續測量
- 可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續測量
- 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點，使得樣品定位變得快速而簡便
應用：
鍍層厚度測量
- 測量極薄鍍層，如電子和半導體產業中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
- 測量汽車制造業中的硬質涂層
- 光伏產業中的鍍層厚度測量
材料分析
- 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質（如重金屬）進行鑒別
- 分析黃金和其他貴金屬及其合金
- 測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量
- 上一篇： 菲希爾Fischer XDL/XDLM/XDAL臺式X射線
- 下一篇： WEW-300B微機屏顯式液壓試驗機
所有評論僅代表網友意見，與本站立場無關。