比表面積和孔徑測(cè)定性能參數(shù)
| 測(cè)試?yán)碚?/span> | 吸附、脫附等溫線； BET單點(diǎn)法，多點(diǎn)法比表面； 朗格繆爾（Langmuir）比表面； 統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面； BJH法孔容孔徑分布； MK-plate法（平行板模型）孔容孔徑分布； D-R法微孔分析； t-plot法（Boder）微孔分析； H-K法（Original）微孔分析； MP法（Brunauer） 微孔分析； 真密度測(cè)試； 粒度估算報(bào)告； |
| 測(cè)試精度 | 比表面積和孔徑測(cè)定重復(fù)性誤差小于±1.5%； |
| 測(cè)試范圍 | 比表面0. 01m2/g以上,微孔;0. 35-2nm、介孔:2nm-50nm、大孔:50nm-500nm； |
| 分 析 站 | 2個(gè)分析站，1個(gè)P0站，2個(gè)處理站； |
| 獨(dú) 立P0 | 比表面積和孔徑測(cè)定具有獨(dú)立的飽和蒸汽壓（P0）測(cè)試站，保證分壓測(cè)試的高準(zhǔn)確性； |
| 氣路系統(tǒng) | 貝士德的BEST多路歧管系統(tǒng)，對(duì)控制閥門進(jìn)行整體集成設(shè)計(jì)，無(wú)任何螺紋密封及管路壓接或焊接接口，將真空管路減少到極限，*消除漏氣點(diǎn)，整個(gè)系統(tǒng)漏氣率低于10-10Pa*m3/s，，密封性提高5倍以上，達(dá)到進(jìn)口水平，極大的提升了儀器的穩(wěn)定性和精確度；氣路系統(tǒng)各部分統(tǒng)籌進(jìn)行模塊化組裝，極大減少故障率，大幅增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性。 |
| 氣控閥 | 采用日本SMC氣控閥，*杜絕因電磁閥發(fā)熱產(chǎn)生的氣體受熱膨脹問題。 |
| 管路通徑 | 大通徑是高真空的條件，脫氣位和測(cè)試位采用大通徑閥門和管路，使真空泵的極限真空得到效果的體現(xiàn)。 |
| 真空系統(tǒng) | 儀器配備兩套獨(dú)立的真空系統(tǒng)，既脫氣系統(tǒng)和分析系統(tǒng)相互獨(dú)立；極限真空達(dá)到10-2Pa，避免由一套真空系統(tǒng)而帶來的污染問題； |
| 壓力測(cè)量 | 每個(gè)分析站都配有電容硅薄膜雙壓力傳感器，分段測(cè)試：0-1000torr，0-1torr；讀數(shù)精度誤差≤0.15%，為目前壓力傳感器的精度；大孔段具有P0的實(shí)時(shí)測(cè)試功能，使P/P0在趨于靈界點(diǎn)時(shí)的控制精度達(dá)到0.998；兩路分析站可同時(shí)工作也可單獨(dú)工作； |
| 預(yù) 處 理 | 2路脫氣站具有獨(dú)立溫控，并具有獨(dú)立定時(shí)功能，可支持與測(cè)試同步進(jìn)行的不同溫度與不同時(shí)間的樣品脫氣處理； 比表面積和孔徑測(cè)定具有“普通加熱抽真空分子擴(kuò)散模式”和“分子置換模式”兩種可選功能；分子置換模式相對(duì)分子擴(kuò)散模式效率提高1倍以上，可節(jié)省一半以上的預(yù)處理時(shí)間，解決以往靜態(tài)法樣品制備時(shí)間長(zhǎng)的問題； |
| 樣品類型 | 粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。 |
| 液位控制 | 貝士德的液氮面伺服保持系統(tǒng)，消除測(cè)試過程中由于液氮揮發(fā)使液氮面變化而帶來的死體積變化，提高測(cè)試精度； |
所有評(píng)論僅代表網(wǎng)友意見，與本站立場(chǎng)無(wú)關(guān)。