UV-A紫外輻照計(jì)產(chǎn)品用途
UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
UV-A紫外輻照計(jì) 產(chǎn)品特點(diǎn):
* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
* 數(shù)字液晶顯示，帶背光
* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動(dòng)關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-A紫外輻照計(jì)技術(shù)指標(biāo):
| 探頭： | UV-420nm 探頭 | UV-365nm 探頭 |
| 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng): | λ：(375～475)nm；λP＝420nm | λ：(320～400)nm；λP＝365nm |
| 紫外帶外區(qū)雜光： | UV420：小于0.02% | UV365：小于0.02% |
| 輻照度測(cè)量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 相對(duì)示值誤差： | ±8%（相對(duì)與NIM標(biāo)準(zhǔn)） | |
| 角度響應(yīng)特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 線(xiàn)性誤差： | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開(kāi)機(jī)30min后） | |
| 響應(yīng)時(shí)間： | 1秒 | |
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 | |
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