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在做紅外光譜(IR)測試時,科學指南針檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到,好多同學對IR不太了解,針對此,科學指南針檢測平臺團隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;
紅外光譜測試是表征材料特征官能基團種類和反應(yīng)過程中特征基團變化的重要手段,可用于研究材料的分子結(jié)構(gòu)和化學鍵紅外光譜圖,表征和鑒別化學物種,并能定性或定量地研究反應(yīng)官能團的含量變化情況。在利用紅外光譜對材料分子官能基團進行表征時,經(jīng)常會遇到紅外曲線基線不平的情況,不僅影響到美觀,而且不利于吸收特征峰之間的變化對比;本文以O(shè)rigin軟件為例,采用三種方法對紅外光譜曲線基線進行調(diào)整。
1.在Origin軟件中輸入需要分析的紅外譜圖數(shù)據(jù)
首先,打開Origin軟件,Import ? Singles ASCII ?找到數(shù)據(jù)文檔存放位置?將文件類型選為All Files ?選擇將分析的數(shù)據(jù)文檔? Open;輸入數(shù)據(jù)后的Origin界面如圖4所示。

圖1

圖2

圖3

圖4
2.基線調(diào)整
選中A(X1)和B(Y1)兩列數(shù)據(jù),單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖,曲線基線出現(xiàn)明顯的不平整。

圖5
方法一:單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Reference Data ? Open Dialog… ?彈出如圖7所示對話框;在Input 1下拉選項中選擇B(Y),Reference Data下拉選項中選擇C(Y),在Output下拉選項中選擇,點擊OK,利用數(shù)據(jù)表中自動新增兩列數(shù)據(jù)(Subtract X1和Subtract Y1)作圖,修改后的Origin界面如圖9所示。

圖6

圖7

圖8

圖9
方法二:選中A(X1)和B(Y1)兩列數(shù)據(jù),單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖,單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Straight Line… ?彈出如圖11所示的Data Display對話框;在曲線左端左下角空白處雙擊添加基線的左側(cè)位點,再在曲線右端右下角空白處雙擊,以選取直線基線的兩端點,得到調(diào)整好基線的曲線圖,如圖12所示,圖中對話框為調(diào)整基線后的輸出結(jié)果日志。
注意:在調(diào)整基線之前,一定要先將原始數(shù)據(jù)備份,因為調(diào)整基線后的數(shù)據(jù)會覆蓋原始數(shù)據(jù);

圖10

圖11

圖12
方法三:選中A(X1)和B(Y1)兩列數(shù)據(jù),單擊左下角的Line做如圖5所示的曲線圖,點擊左側(cè)工具欄中的Draw Data/Free-form drawing of data?在曲線低點下方雙擊選取基線位點,如圖14所示;然后,單擊菜單欄中Analysis ? Data Manipulation ? Subtract Straight Line… ?彈出如圖16所示的Data Display對話框;在Reference Data下拉選項中選擇Plot(2):B,在Output下拉選項中選擇紅外光譜圖,點擊OK,即在原曲線下方得到調(diào)整基線后的曲線圖,如圖17所示,調(diào)整后的曲線數(shù)據(jù)會自動存儲在另一個工作表中。

圖13

圖14

圖15

圖16

圖17